高低溫萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)主要用于金屬、非金屬、銅、鋁型材的拉伸、壓縮、彎曲、剪切、剝離、撕裂等試驗(yàn),滿(mǎn)足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)等力學(xué)性能指標(biāo)的測(cè)試。精密的自動(dòng)控制和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)采集和控制過(guò)程的全數(shù)字化調(diào)整。

　　在拉伸試驗(yàn)中，檢測(cè)材料的承載拉力、抗拉強(qiáng)度、伸長(zhǎng)變形、延伸率等技術(shù)指標(biāo)。除可進(jìn)行常規(guī)蠕變、持久試驗(yàn)外，還可以進(jìn)行應(yīng)力松弛試驗(yàn)、高溫短時(shí)拉伸試驗(yàn)、周期加載試驗(yàn)（載荷譜試驗(yàn)）、低周循環(huán)等試驗(yàn)。

　　控制系統(tǒng)是控制試驗(yàn)機(jī)運(yùn)行的系統(tǒng)，人們可以通過(guò)電腦操作來(lái)控制試驗(yàn)機(jī)的運(yùn)行，并可以通過(guò)電腦顯示屏獲得試驗(yàn)機(jī)的狀態(tài)和各種試驗(yàn)參數(shù)。還可通過(guò)計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)功能和數(shù)據(jù)處理分析，并打印測(cè)試結(jié)果。測(cè)試儀與計(jì)算機(jī)之間的通信通常通過(guò)多功能USB接口進(jìn)行傳輸。它通過(guò)計(jì)算機(jī)背面的串行端口(COM端口)進(jìn)行通信。該技術(shù)成熟可靠，使用方便。計(jì)算機(jī)軟件用于收集和處理分析數(shù)據(jù)。進(jìn)入測(cè)試界面后，電腦會(huì)不斷采集各種測(cè)試數(shù)據(jù)，實(shí)時(shí)繪制測(cè)試曲線，并自動(dòng)打印測(cè)試結(jié)果參數(shù)和曲線報(bào)告。

　　高低溫萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)的操作注意事項(xiàng)

　　1、照明燈除了必要時(shí)打開(kāi),其余的時(shí)間都應(yīng)該關(guān)閉。

　　2、在關(guān)閉試驗(yàn)設(shè)備之后,避免在三分鐘內(nèi)再次開(kāi)啟試驗(yàn)設(shè)備。

　　3、在實(shí)操當(dāng)中,請(qǐng)不要隨意打開(kāi)箱門(mén),否則將會(huì)導(dǎo)致很多不良的后果。

　　4、絕對(duì)禁止爆炸性的試驗(yàn),可燃性或者是高腐蝕性的物質(zhì)。

　　5、注意機(jī)器必須要安全接地,免得產(chǎn)生了靜電的感應(yīng)。

　　高低溫萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)在使用過(guò)程中偶爾會(huì)產(chǎn)生靜電。了解靜電的危害。

　　1、縮短使用壽命：靜電會(huì)吸附灰塵，從而降低元件的絕緣電阻。

　　2、潛在損壞：由靜電放電電場(chǎng)或電流產(chǎn)生的熱量引起的元件損壞。

　　3、*損壞：靜電放電損壞，導(dǎo)致元件損壞而無(wú)法工作。

　　4、電磁干擾：靜電放電產(chǎn)生的磁場(chǎng)幅值很大（可達(dá)幾百伏米），頻譜很寬（從幾十兆到幾兆不等），對(duì)試驗(yàn)機(jī)造成干擾甚至損壞。

　　如果元件*損壞，在生產(chǎn)和質(zhì)量控制中會(huì)被檢測(cè)和消除，影響很小。如果元件有輕微損壞，在正常測(cè)試下是不容易發(fā)現(xiàn)的。在這種情況下，往往經(jīng)過(guò)多層處理甚至在使用過(guò)程中才發(fā)現(xiàn)損壞，不僅難以檢查，而且損失也難以預(yù)測(cè)。找出解決所有問(wèn)題需要多少人力和財(cái)力。如果在使用過(guò)程中發(fā)現(xiàn)故障，損失將是巨大的。在設(shè)計(jì)過(guò)程中，要注意電路設(shè)計(jì)，盡量減少靜電的產(chǎn)生。